Характеристика работ. Юстировка и настройка электронных приборов и электронографов отечественного производства или зарубежных моделей. Юстировка резисторов сложных гибридных микросхем с точностью +/- 1 - 0,5% до номинала или соотношений двух и более резисторов с точностью +/- 5% и менее с помощью оптического квантового генератора. Электрическая проверка аналитической части масс-спектрометров. Уменьшение аберраций и дискриминационных эффектов. Ввод газов и паров жидкости в анализатор. Подготовка твердой пробы для анализа. Определение неисправностей в настраиваемых приборах и их устранение. Составление макетных схем для проверки управления работой узлов масс-спектрометров.
Должен знать: устройство, способы проверки на точность, принципиальные электронные, электрические и вакуумные схемы обслуживаемых приборов, методы определения разрешающей способности электронных микроскопов; методы изготовления диафрагм; способы получения эталонных электронограмм и определение константы прибора; правила перенастройки микроскопов в различные режимы (дифракция, микродифракция, отражение и т.д.); устройство электроизмерительных приборов и приспособлений, применяемых при юстировке и настройке приборов; принцип установления режимов работы систем ионообразования в процессе юстировки; влияние рассеянных полей на фокусировку заряженных частиц; основные правила по приготовлению объектов.
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ
1. Масс-спектрометры времяпролетные, промышленного контроля и хромато-эффузиомасс-спектрометры - настройка и юстировка.
2. Микроскоп УЭМ-6Т электронный - настройка и юстировка.
3. Микроскоп EF-4 (Германия) электронный - перестройка из режима "на просвет" в режим дифракции.
4. Микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-4 - перестройка ЭОС в режим дифракции, устранение одного, двух видов аберраций; работы в режимах "вторичные или отраженные электроны", в режиме микроанализа.
5. Рентгеновский электронно-оптический преобразователь - юстировка плоскостная и центровка.