Характеристика работ. Измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и Других электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на контрольно-измерительных приборах. Определение электрических параметров по нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам. Измерение емкостных, обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов. Определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим методами. Определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик и сопротивлений МДП и ЦЦП-структур, измерение интенсивности электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов. Измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей. Испытание электрической прочности и сопротивления изоляции. Проверка отсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде и купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте. Пооперационный контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и величину сопротивления. Проверка микромодулей по картам сопротивлений и напряжений. Подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов. Травление и декапирование образцов в кислотах и травителях. Настройка приборов на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров. Определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной проницаемости. Элементарные расчеты по формулам.
Должен звать: устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов; методику измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники; свойства кислот и травителей; правила травления, декапирования и промывки; методы измерения толщины и типов проводимости; принципиальные схемы проверки вольт-амперных характеристик и пробивных напряжений; степень точности, пределы измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов; основные теоретические положения электро- и радиотехники.
Примеры работ
1. Выпрямители селеновые из элементов серий "А", "Г", "Я", "Ф" всех размеров - измерение электропараметров.
2. Двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при увеличении в 25 - 50 раз.
3. Изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических параметров.
4. Конденсаторы - измерение электрических параметров.
5. Кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные - измерение электрических и электромагнитных параметров.
6. Микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками, длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех.
7. Многослойные печатные платы - разметка топологии, замеры переходного сопротивления в отверстиях.
8. Пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои - определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного кристаллографического направления оптическим методом.
9. Пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции - проверка статических параметров.
10. Пластины полупроводниковые - определение толщины эпитаксиальных структур методом шарового шлифа.
11. Платы электронных часов - проверка тока потребления, генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора.
12. Резисторы - измерение и подгонка сопротивлений; измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового производства с точностью до +/- 5%.
13. Секции металлобумажные, пленочные - измерение электрических параметров.
14. Секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на специальной установке.
15. Селеновые элементы серий "А", "Я", "Ф", "Г" всех размеров - измерение всех электропараметров.
16. Слои диэлектрические, поликристаллические, эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия.
17. Стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости поляризации в заданном диапазоне.
18. Схемы интегральные - измерение электрофизических параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС III степени интеграции.
19. Трансформаторы и дроссели - измерение электрических параметров.
20. Ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь.